上海精测半导体获得一种获取理论光谱的办法和描摹参数的测量办法专利

  金融界2024年12月14日音讯，国家知识产权局信息数据显现，上海精测半导体技能有限公司获得一项名为“一种获取理论光谱的办法和描摹参数的测量办法”的专利，授权公告号 CN 115014240 B，请求日期为 2022 年 7 月 。

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